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尼康半导体显微镜ECLIPSE L200N,L200ND,L300N,L300ND
产品名称：尼康半导体显微镜ECLIPSE L200N,L200ND,L300N,L300ND
产品规格：
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产品详情
尼康正置显微镜ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N
尼康CFI60-2光学系统，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。
尼康Digital Sight数码相机能进行快速拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。
尼康CFI60-2光学系统：成像清晰，支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；
透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
数字化智能通信：显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。
操控按钮集中于显微镜前部——减少手部移动、便于集中精力快速观察。
方便精细操控的旋钮位置设计——XY微动旋钮靠近调焦旋钮位置，便于样品的微移动和对焦。
防静电、防污染设计——工作台、目镜筒等部件有防静电涂层，可减少静电造成的损伤和污染。
对焦辅助插片——对于低对比度的样品（如硅晶片表面），辅助对焦插片插入光路，有助于快速对焦。
CFI60-2相位菲涅尔物镜——相位菲涅尔透镜与普通透镜折射特性相反。两种透镜结合在一起，可改善消色差性能。
改善消色差性能，实现长工作距离——加入相位菲涅尔透镜，可缩短物镜长度，从而获得更长的工作距离。
行业：主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查，如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留，检查有机EL显示屏。
*仅L300N/L300ND/L200ND
这一系列半导体显微镜是检测集成电路（IC）、平板显示器（FPD）、大规模集成（LSI）电子设备和许多其他应用的较理想选择。
用于检查大型样品的光学显微镜-采用尼康CFI60-2光学系统设计，成像清晰；可搭配数码相机。
尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D)可用于硅片（L200N系列为200mm，L300N系列为300mm）、分划板和其它大型平板类电子零部件的光学检查。尼康CFI60-2光学系统，支持实现清晰的、高对比度的明场、暗场、荧光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）镜检，以及双光束干涉测量。
尼康Digital Sight数码相机能进行快速拍照，并可将当前在用物镜、倍率转换设置和照明光亮度等参数一起传送到NIS-Elements显微镜图像处理软件中。
L200N与NWL200联合使用在半导体行业中得到认可和信任。
尼康CFI60-2光学系统：成像清晰，支持多种显微镜镜检。
反射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、荧光和双光束干涉；
透射照明下可选择的镜检方式有：明场、暗场、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
数字化智能通信：显微镜通过USB与尼康NIS Elements软件相连，可检查并控制物镜转换、照明亮度、光阑动作等。
人体工学设计：使用倾角可调的目镜筒，可使操作者更为舒适地观察样品，消除疲劳。主要用于观察原材料、半导体和工业零部件。
操控按钮集中于显微镜前部——减少手部移动、便于集中精力快速观察。
方便精细操控的旋钮位置设计——XY微动旋钮靠近调焦旋钮位置，便于样品的微移动和对焦。
防静电、防污染设计——工作台、目镜筒等部件有防静电涂层，可减少静电造成的损伤和污染。
对焦辅助插片——对于低对比度的样品（如硅晶片表面），辅助对焦插片插入光路，有助于快速对焦。
CFI60-2相位菲涅尔物镜——相位菲涅尔透镜与普通透镜折射特性相反。两种透镜结合在一起，可改善消色差性能。
改善消色差性能，实现长工作距离——加入相位菲涅尔透镜，可缩短物镜长度，从而获得更长的工作距离。
行业：主要用途集中在电子通讯领域的零部件检查，如硅片、液晶显示屏等。反射荧光*可用来有效地检查光刻胶残留，检查有机EL显示屏。
*仅L300N/L300ND/L200ND