JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜仪器简介：

JEM-ARM300F实现了较高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了较高的STEM-HAADF像分辨率。

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜仪器特点：

★实现了较高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率

JEM-ARM300F配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了较高的STEM-HAADF【扫描透射电子像-高角环形暗场像】像分辨率。

★STEM-HAADF像的保证分辨率达到了58pm

采用JEOL自主研发的球差校正器，扫描透射像（STEM像)的保证分辨率可达58pm（300kV,超高分辨率极靴、使用STEM球差校正器时）。

★ETA校正器 JEOL自主研发的12极球差校正器　※选配件

ETA校正器（Expanding trajectory aberration corrector）是JEOL研发的扩展轨道型12极球差校正器。可以在用户现场加装STEM球差校正器及TEM球差校正器。

★强大的冷场发射电子枪HyperCF300

标配了新设计的冷场发射电子枪,低能散、高亮度电子束能提供高分辨率观察和分析。

★两种物镜极靴

为了支持用户广泛的需求，研发了两种各具特点的物镜极靴。

★丰富的选购件

能安装超大立体角EDS（能谱仪）、EELS（电子能量损失谱仪）、背散射电子检测器及四种STEM观察检测器。

★大范围的加速电压设置

标配300kV和80kV下的球差校正数据,可选的加速电压范围从40KV?300kV，使用范围极广。

★新开发的真空系统

新的排气系统达到了较高的真空度，在原子尺度的图像观察和分析中，大限度地减轻了对样品的污染和损伤。

★高稳定的镜筒和样品台

整体稳定性高、直径330mm的镜筒增加了机械刚度， 在JEM-ARM200F高度稳定的技术基础之上，把电气稳定性和对环境的抗干扰能力提高到新高度。

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜仪器规格：