序号

型号

简介

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JSM-IT200 InTouchScope™

JSM-IT200是一款更简洁、更易于使用且性价比高的扫描电子显微镜。JSM-IT200Series有4种机型可供选择：标准机型JSM-IT200BU、分析型JSM-IT200A、低真空观察型JSM-IT200LV、分析型低真空观察JSM-IT200LA

使用初学者易懂的样品交换导航，可以轻松地从样品台搜索视野并开始观察SEM图像。Zeromag能像光镜一样直观地搜索视野，Live Analysis*2可以不用特意分析就能实时获取元素分析结果，SMILE VIEWTM Lab能综合编辑观察和分析报告等，使它成为一个分析业务的软件。

立即观察！立即分析！立即报告！

JEOL InTouchScope™系列特有的三个功能使分析装置成为一种工具。

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JSM-7610FPlus

JSM-7610F的光学系统经过改进，实现了分辨率15kV 0.8nm、1kV 1.0nm的进一步提升，以崭新的JSM-7610FPlus热场发射扫描电镜形象亮相。采用半浸没式物镜和High Power Optics照明系统，提供稳定的高空间分辨率观察和分析。此外还具备利用GENTLEBEAMTM模式进行低加速电压观察、通过r-filter分选信号等满足各种需求的高扩展性。

3

JSM-IT500HR

JSM-IT500HR 扫描电子显微镜是JEOL InTouchScope™系列的新机型, 与本社旧机型相比作业效率提高了40%以上。本机采用新开发的高亮度电子枪和透镜系统，可以更迅速便捷地提供令人惊叹的高分辨率图像、高灵敏度和高空间分辨率；从设定视野到生成报告，利用完全集成的软件大大地提高了作业速度。新型高通量扫描电子显微镜JSM-IT500HR有两种型号：标配低真空观察功能的JSM-IT500HR/LV和标配EDS的JSM-IT500HR/LA 。

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JSM-7900F

纳米技术、金属、半导体、陶瓷及医学生物学等各种各样领域里，扫描电子显微镜被活用，而且它的用途越来越广。随着高D材料构造的微细化，高分辨下观察变得必要，同时更简单地获取高效观察和分析数据的要求也越来越高。为了对应这些需要，JSM-7900F不再依赖操作的技能和经验，就能发挥很高的性能，实现了超高分辨观察和简单操作。

日本电子热场发射扫描电子显微镜JSM-7900F是JEOL新一代场发射扫描电子显微镜的旗舰机型。 它继承了上一代广获好评的性能如较高的空间分辨率、高稳定性、多种功能等的同时，操作性能大大简单化。该设备不依赖操作者的技能，始终能够发挥其良好性能。

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Serial Block-face SEM 3View

肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像。通过对获得的图像进行三维重构，可以对精细结构进行三维分析。

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JCM-6000plus NeoScope™

JCM-6000plus NeoScope™ 台式扫描电子显微镜新的操作屏幕和触控屏带来了方便的操作体验，使用起来非常直观。此外，JCM-6000plus标准配置了低真空模式，还可以安装EDS等附件，是一款功能丰富的台式扫描电子显微镜。

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JSM-IT500

JSM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新机型。 从设定视野到生成报告，用于分析的软件整合于一体，加快了作业速度！是一款无缝操作，使用更加方便的扫描电子显微镜。

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JSM-7200F

JSM-7200F的电子光学系统应用了日本电子旗舰机-JSM-7800F Prime采用的浸没式肖特基电子枪技术，标配TTLS系统（Through-The-Lens System），无论是在高/低加速电压下，空间分辨率都比传统机型有了很大的提升。此外，保证300nA的z大束流，能兼顾高分辨率观察和高通量分析，具有充实的自动功能和易用性，是新一代的多功能场发射扫描电镜。

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JSM-IT100系列

JSM-IT100多功能扫描电镜，凝聚了日本电子50年来的SEM技术精华，外形设计紧凑。新开发的标准机型，不仅保持了InTouchScope系列广受好评的可操作性，还拥有能与高端机型相媲美的可扩展性，应用范围可涵盖以生物技术和纳米技术为首的包括材料开发、测试、评估和缺陷分析及质量控制等广泛领域。

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JED-2300/2300F 能谱仪

JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。