序号

产品系列

产品简介

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JEM-Z300FSC

场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。

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JEM-ARM200F NEOARM

现在，配备球差校正器的透射电子显微镜几乎已成为高D研究场所的标准配置，日本电子已经向全世界输送了约200台球差校正透射电镜。JEM-ARM200F “NEOARM”是日本电子2017年推出的可满足含轻元素和不耐电子束辐照等材料的高分辨观察需求的新型原子分辨率分析型电子显微镜。JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。

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JEM-Z200FSC

场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器（Ω能量过滤器）、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合，进一步提高了生物样品的衬度。

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JEM-1400Flash

从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料，日本电子透射电子显微镜JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域，而且用途越来越广。其中，以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察，首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况，再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来，对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切。为了满足这些需求，日本电子2017年推出的新款120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超大视野的蒙太奇系统以及与光学显微镜图像的联动功能。

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JEM-3200FS

JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了*高加速电压为300kV的场发射电子枪（FEG）和镜筒内置式Ω型能量过滤器，能为广泛的研究领域提供各种新的解决方案。

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JEM-2100Plus

JEM-2100Plus电子显微镜，不仅拥有信誉Z著的JEM-2100 的电子光学系统，还增加了新的控制系统，大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优良，操作方便，简明易懂，在材料、医学、生物学等多个研究领域提供较好的解决方案。

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JEM-1000

由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短，即使增大物镜极靴之间的间隙，也能获得高分辨率的图像。此外，电子束具有很强的穿透能力，即使厚样品也能观察到清晰的图像，这是超高压透射电子显微镜的优点。

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JEM-F200

以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜，不仅提高了空间分辨率和分析性能，还采用了新的操作系统可满足多种使用途径，易用性强，外观设计精炼，能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

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JEM-ARM300F GRAND ARM

日本电子透射电子显微镜 JEM-ARM300F GRAND ARM实现了较高扫描透射像(STEM-HAADF)【扫描透射电子像-高角环形暗场像】分辨率，配备了JEOL自主研发的球差校正器，最高加速电压可达300kV，是一款原子级分辨率电子显微镜。

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JED-2300T 能谱仪

JED-2300T AnalysisStation是以“图像观察和分析”为基本理念的TEM/EDS集成系统。在分析数据过程中，自动采集电镜主机的倍率、加速电压等参数，进行数据管理。 JED-2300T 能谱仪硅漂移检测器（以下简称SDD）的检测面积有30mm2、60mm2和100mm2三种。检测面积越大，检测灵敏度越高。JEM-ARM200F（HRP）配合使用DRY SD100GV检测器（检测面积为100mm2），可同时实现大受光面积和高分辨率， 可以清楚地识别B、C、N、O等轻元素。

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EM-05500TGP TEM

断层扫描系统

TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。为使电子断层扫描特有的各种调整能够自动化，TEM断层扫描系统采用了独特算法的软件（Recorder、Composer和Visualizer-Kai）。