名称

规格型号

简介

三目正置金相显微镜

56XC

56XC金相显微镜是由显微镜和落射照明装置组成，广泛用于半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业等，可作为高J金相显微镜使用时用户能够感受到其超强的性能。此仪器采用了高品质的UIS II无穷远校正光学系统和透反射两种照明方式，因此成像更清晰，衬度性更好，在反射光下可进行明暗场和DIC以及偏光观察，在透射光下可作明场观察。特别适合半导体、FBD、电路封装、电路基板、材料、金属铸件和陶瓷部件、精密模具等方面使用。总放大倍数：50x-400x

三目正置金相显微镜

53X

正置金相显微镜53X适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，也可用于材料表面的某些特征（划痕、裂纹、喷涂的均匀性），纺织纤维、化学颗粒等方面的研究。总放大倍数：50X-625X

三目正置金相显微镜

53XB

可用于金相、矿物、晶体、微电子等方面进行观察与分析研究等，是工厂、高等院校、科研机构及电子工业部门的优选。特点：1.采用了反射和透射两种照明方式。2.在反射光照明下可以进行明场和偏光观察，又可以在透射光下作明场观察。3. T形的外观设计给您提供了稳定的基座。总放大倍数：50x-400x

三目正置金相显微镜

56XA

正置金相显微镜56XA采用优良的无限远光学系统设计，可实现偏光观察、暗场观察等功能，导柱升降装置，可以快速调整工作台与物镜之间的距离，适用于不同厚度工件表面的金相组织结构与工件表面质量进行显微观察，主要用于精密零件，集成电路，包装材料等产品检测。总放大倍数：40-800X

三目正置金相显微镜

55XA

三目正置金相显微镜55XA采用优质的无限远光路系统，配置了落射与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、内置偏光观察装置，具有图像清晰、衬度好，造型美观，操作方便等特点，能分别对不透明物体或透明物体进行显微观察。是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的较理想仪器。总放大倍数：50—800X

便携式金相显微镜

BJ-B

BJ-B型便携式金相显微镜是一款便携式金相显微镜,采用了可开关的具有磁性的底座，用于现场鉴定无法制作金相试样时的各种金属与合金的组织结构，可广泛应用于现场对金属材料作金相分析及大型金属工件的金相组织检查。总放大倍数：100—500X

便携式金相显微镜

BJ-A

BJ-A型金相显微镜是一款便携式金相显微镜,可用于现场鉴定无法制作金相试样时的各种金属与合金的组织结构，广泛应用于现场对金属材料作金相分析及大型金属工件的金相组织检查。总放大倍数：100—500X

双目金相显微镜

4XB

4XB金相显微镜可用来鉴别和分析各种金属材料的组织结构，以及对表面喷涂、裂纹现象进行研究工作。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。

三目金相显微镜

4XC-Ⅱ

三目金相显微镜4XC-Ⅱ采用无限远光学系统设计和无限远长距平场物镜的配置，带有偏光装置，并可选配暗场装置。本款显微镜设计新颖精致，造型美观大方，操作方便灵活，成像清晰，视场平坦！可用于金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。

三目金相显微镜

4XC-Ⅰ

三目金相显微镜4XC-I，设计新颖，造型美观，操作灵活，成像清晰，带偏光！可用于对金属、岩矿内部结构组织的鉴定和分析，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。总放大倍数：40X-1250X

三目倒置金相显微镜

4XC(4XB-C)

倒置金相显微镜4XC(4XB-C)成像清晰，操作灵活，性价比极高。主要用于鉴定和分析金属内部结构组织，或用于观察材料表面的某些特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。 总放大倍数：100X-1250X

金相图像分析显微镜

4XC-UV-MA

4XC-UV-MA配置了高清晰的日本JVC摄像头和专Y定量金相分析软件UV-MA，包含多达400多项完全符合GB、YB、JB、ASTM等标准自动评级项目，具有对金相图像进行自动评级、定标测量、定倍打印和输出报表等多种功能。适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究分析的较理想仪器。

金相图像分析显微镜

4XC-Ⅱ-MA

4XC-Ⅱ-MA采用了无限远光路，无限远长距平场物镜及大视野平场目镜设计，配置了高达1500万像素佳能单反相机及多达400多项符合GB、YB、JB、ASTM等标准自动评级分析软件，适用于金相组织及表面形态的显微观察，是金属学、矿物学、精密工程学研究分析的较理想仪器。

定倍定标金相图像显微镜

4XC-UV

4XC-UV是由三目金相显微镜4XC、日本JVC高清晰摄像头及显微图像测量软件组成的显微图像摄像系统。该系统可在电脑显示器上实时显示显微图像，可单张、连续采集显微图像，该系统还配有图像测量管理软件，可对拍摄的显微图像定倍，显示比例尺，适用于研究人员制作标准定倍定标金相图像及论文发表，也适用于工矿企业制作定倍定标图像、金相图谱比对。

单目金相显微镜

4X1

金相显微镜4X1可用来鉴别和分析各种金属材料的组织结构，以及对表面喷涂、裂纹现象进行研究工作。广泛应用在工厂、实验室和教学及科学领域。总放大倍数：100X-1250X

三目正置金相显微镜

52XA

本款正置金相显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时配有偏光装置，是金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。适用于薄片试样的金相、矿相、岩相、晶体等结构分析和鉴别，或用于观察材料表面特性，如：划痕、裂纹、喷涂的均匀性等及纺织纤维、化学颗粒的分析研究。总放大倍数：50X-800X

三目金相显微镜

54X

54X工业检测显微镜配有大移动范围的载物台、落射照明器、平场无限远长工作距离明暗场物镜、大视野目镜，其采用了无限远校正光学系统，图像清晰，衬度好，是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业开发的，作为高J工业显微镜使用。可进行明暗场、落射偏光和微分干涉的观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对硅片、电路基板、裂缝探究、精密模具的监测分析。该显微镜配有三目镜管可选配摄像装置和摄影装置，并连接电脑再配置测量软件或金相图像分析软件，便可成为一台微机型工业检测显微镜。总放大倍数：50X-800X