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关联显微镜
产品名称：关联显微镜
产品规格：进口
产品单位：台
产品详情
关联显微镜
关联显微镜简介：为了获得样品的实质，需要经常使用多种方法进行分析。从微米级到纳米级的观察需要将光学显微镜与电子显微镜（CLEM）或X射线显微镜与FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜（CXF）进行相关联。蔡司的关联显微镜技术为您提供了集成化的解决方案和无缝衔接的工作流程。选择蔡司作为光学显微镜、电子显微镜、离子束显微镜和X射线显微镜的供应商，并从多年的关联分析经验中受益。选择以样品为中心的图像和数据关联技术，使您的研究工作超越单一显微镜能够达到的技术界限。
关联显微镜示例：
关于增材制造的关联显微镜技术解决方案
深入理解并改善缺陷检测，并从根源抑制缺陷产生
特点
深入了解缺陷的产生; 如杂质，残留物，不正确的几何形状
了解 CAD图纸中的材料属性，粉末质量，激光参数和布局等属性的影响
使用高衬度，高分辨率成像以区分材料中不同的相
在微观结构内非破坏性地确认三维亚表面特征
蔡司关联显微镜技术已被证实可成功识别3D打印部件中的杂质，并通过应用多个工作流程来了解其产生原因。蔡司Xradia Versa被用来进行大范围扫描，然后将可疑的亮点位置转移到蔡司 Crossbeam中，并用蔡司Atlas 5重新定位，最后利用EDX进行分析。这种方法可以识别杂质的来源，这些杂质往往来自于之前的3D打印作业，由于使用了不同的粉末材料而未能彻底清洁粉末容器而引入的。