美国FEI进口电子显微镜_Verios XHR 扫描电子显微镜（扫描电镜）

Verios XHR 系列扫描电子显微镜 (SEM)让科学家和工程师迅速看到以前无法视及的微观世界： 高灵敏的表面图像、以及俯视或从其它角度观看图像，分辨率可达到一纳米以下。 这款电镜上的一些重要突破在于它镜筒上采用了单色枪技术,它使显微学家可较好地把高空间分辨率和超浅入射电子束结合在一起。 Verios XHR SEM 系列扫描电子显微镜 (SEM) 在不受样品大小限制的条件下,既扩展了传统纳米尺度扫描电子显微镜的成像和分析范围与能力，同时又具备相当于传统扫描电子显微镜 (SEM) 的速度和易用性。